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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Peters, Dethard* ; Aichinger, Thomas ; Basler, Thomas ; Rescher, Gerald ; Puschkarsky, Katja ; Reisinger, Hans

Investigation of threshold voltage stability of SiC MOSFETs


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 1946-0201
Quelle: 2018 IEEE 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 13-17 May 2018, Chicago, IL, USA
Freie Schlagwörter (Englisch): SiC MOSFET , Threshold Voltage Stability

 

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