Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Sheremet, E. ; Kim, L. ; Stepanichsheva, D. ; Kolchuzhin, V. ; Milekhin, A. ; Zahn, Dietrich R. T. ; Rodriguez, R.D.*
Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0304-3991 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.ultramic.2019.112811 | |
| Quelle: | In: Ultramicroscopy. - Elsevier BV. - 206. 2019, S. 112811 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | TERS , Imaging artifacts , Plasmonics , Nanospectroscopy , Scanning probe microscopy |
