Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schwabe, Christian* ; Seidel, Peter ; Lutz, Josef
Simulation of current crowding in inverse diodes of low-voltage Si MOSFETs at power cycling
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-9-0758-1530-6 | |
| Quelle: | EPE 2019, 2-5.09.2019, Genoa, IEEE catalog number: CFP19850-USB P.1-7. - IEEE, 2019, 457 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power cycling , MOSFET , Simulation , Reliability , Thermal stress |
