Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Seitz, Lisa ; Schütze, Adrian ; Nordheim, Gregor ; Seyller, Thomas ; Hundhausen, Martin
Characterization of few layer MoS2 on Silicon Carbide with Raman Spectroscopy
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Experimentalphysik mit dem Schwerpunkt Technische Physik | |
| Dokumentart: | Konferenzabstract | |
| URL/URN: | http://www.dpg-verhandlungen.de/year/2016/conference/regensburg/part/o/session/46/contribution/2 | |
| Quelle: | Dpg-Frühjahrstagung Regensburg, 6.-11.3.2016 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | 2D Materials beyond Graphene , TMDCs , Slicene , Relatives |
