Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Structural and Electrical Characterization of 3D Gate Organic Field Effect Transistor | Arekapudi, P.K. et al. | 2012 |
2 | Spectroscopic ellipsometry study of thin diffusion barriers of TaN and Ta for Cu interconnects in integrated circuits | Rudra, Sukumar* et al. | 2008 |
3 | Untersuchung und Modifikation der elektronischen Struktur von neuen Halbleitermaterialien | Lübbe, Martin | 2001 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 3 |