Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Crack propagation in micro-chevron-test samples of direct bonded silicon-silicon wafers. | Vogel, K. et al. | 2011 |
2 | Crack propagation in micro-chevron-test samples of direct bonded wafers | Vogel, K. et al. | 2009 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 2 |