Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Validating the Critical Point of Spontaneous Parametric Downconversion for Over 600 Scanning MEMS Micromirrors on Wafer Level | Nabholz, Ulrike et al. | 2020 |
2 | Modenkopplung in Mikrospiegeln | Nabholz, Ulrike et al. | 2019 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 2 |