Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Stressidentifikation dünner Membranstrukturen mittels dynamischerMessungen | Michael, Steffen et al. | 2010 |
2 | Determination of Dimensional Parameters in MEMS Components by Vibration Analyses | Kurth, Steffen et al. | 2007 |
3 | Vollautomatisierter Test von Mikrosystemen auf dem Wafer | Giessmann, Sebastian et al. | 2007 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 3 |