Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Erfassung und Austausch prozessspezifischer Anforderungen entlang der Wertschöpfungskette | Mayer, Franziska et al. | 2025 |
| 2 | Towards Model-Driven Circuit Test Development: SysMLv2-Based Test Modeling and Assisted Workflow | Ghazavi, Sanaz* et al. | 2025 |
| 3 | Automatisierte Ausführungsemulation von Testprogrammen für Sensorsysteme | Mayer, Franziska* et al. | 2024 |
| 4 | MEMS-Based Fingerprinting Architecture for Trustworthy Electronics | Meinel, Katja et al. | 2023 |
| 5 | An Approach to Verification of ATE Power Supplyand Signal Integrity using Virtual-DUT | Yazdani, Saeid* et al. | 2022 |
| 6 | MEMS-basierte Fingerprint-Architektur für Vertrauenswürdige Elektronik | Schott, Christian et al. | 2022 |
| 7 | Automatic Verification of Mixed-Signal ATE Test Programs using Device Variation | Mayer, Franziska et al. | 2021 |
| 8 | Closed-Loop Approach on Formal Specification for Semiconductor Test | Schott, Christian* et al. | 2021 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 8 |
