Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mayer, Franziska ; Schott, Christian ; Billich, Enrico ; Yazdani, Saeid ; Heinkel, Ulrich ; Daler, Georg ; Ruf, Bernhard ; Pannuzzo, Ricardo ; Dickenscheid, Wolfgang
Automatic Verification of Mixed-Signal ATE Test Programs using Device Variation
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | EU | |
| Institut: | Professur Schaltkreis- und Systementwurf | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-6654-1695-5 ; 978-1-6654-1696-2 ; 2378-2250 ; 1089-3539 | |
| DOI: | doi:10.1109/itc50571.2021.00053 | |
| Quelle: | 2021 IEEE International Test Conference (ITC), 10-15 Okt. 2021, Anaheim, CA, USA, S. 374-379. - IEEE, 2021 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Test Program Verification , Automatic Test Equipment , Mutation Testing , Device Variation |
