Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Advanced Temperature Estimation in Low Rds,on p-GaN HEMT Devices for Performing Power Cycling Tests | Franke, Jörg* et al. | 2019 |
2 | Reliability test results of PCB soldered GaN GIT devices | Boldyrjew-Mast, Roman* et al. | 2019 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 2 |