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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Boldyrjew-Mast, Roman* ; Kretzschmar, Danny ; Franke, Jörg ; Lutz, Josef

Reliability test results of PCB soldered GaN GIT devices


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: ISBN 978-3-8007-4938-6
Quelle: PCIM Europe 2019, 7 - 9 Mai 2019, Nürnberg, S. 651 - 658. - Berlin : VDE Verlag GMBH, 2019
Freie Schlagwörter (Englisch): Reliability , Galium Nitride (GaN)

 

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