Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Boldyrjew-Mast, Roman* ; Kretzschmar, Danny ; Franke, Jörg ; Lutz, Josef
Reliability test results of PCB soldered GaN GIT devices
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | ISBN 978-3-8007-4938-6 | |
Quelle: | PCIM Europe 2019, 7 - 9 Mai 2019, Nürnberg, S. 651 - 658. - Berlin : VDE Verlag GMBH, 2019 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Reliability , Galium Nitride (GaN) |