Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Spectroscopic Ellipsometry Investigation of Ultrathin Nb2O5 and Nb2O5/Al2O3 Layers | Friedrich, M. et al. | 2010 |
2 | The Influence of Sb Clusters on Eelectrical Characteristics in Organic-Semiconductor Structures | Arnold, M. et al. | 2010 |
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Anzahl der Dokumente: | 2 |