Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Dietz, Christian ; Zerson, Mario ; Riesch, Christian ; Gigler, Alexander Michael ; Stark, Robert W. ; Rehse, Nicolaus ; Magerle, Robert
Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Chemische Physik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0003-6951 | |
| URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1063/1.2907500 | |
| Quelle: | In: Applied Physics Letters. - 92. 2008, 14, 143107-1 - 143107-3 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | semicrystalline polymers , thin films , scanning force microscopy |
