Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Volltext zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-978790
Zerson, Mario
Magerle, Robert (Prof. Dr.) ; Dietz, Christian (Priv.-Doz. Dr.) (Gutachter)
Morphology and Surface Structure of Semicrystalline Semiconducting Polymers
Kurzfassung in deutsch
Ziel dieser Arbeit war die Oberflächenabbildung von halbleitenden teilkristallinen Polymeren mittels Rasterkraftmikroskopie. Dabei wurde der standardmäßige intermittierende Kontaktmodus zur Oberflächencharakterisierung durch die Rasterkraftspektroskopie der Amplituden-Phasen-Abstand-Kurven und den daraus rekonstruierten MUSIC-Modus sowie die tiefenaufgelöste Rasterkraftmikroskopie ergänzt. Durch diese Kombination konnte ein umfassenderes Bild der Oberfläche bis in eine Tiefe von wenigen Nanometern gewonnen werden. Auf dem konjugierten Polymer P3HT konnte eine amorphe Deckschicht nachgewiesen werden. Weiterhin konnten durch Unterschiede in den nanomechanischen Eigenschaften der Oberfläche von (P(NDI2OD-T2) die beiden Kristallformen identifiziert werden. Durch die Untersuchung von nur wenige Nanometer dicken Polymerfilmen aus (P(NDI2OD-T2) bzw. PTzDPPTzF4 und deren Ausbildung von nur wenige Nanometer hohen Terrassen konnten monomolekulare Schichten nachgewiesen werden. Dies ermöglichte auch die Bestimmung der Orientierung des Polymerrückgrats und der Orientierung der Seitenketten.
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Chemische Physik | |
| Fakultät: | Fakultät für Naturwissenschaften | |
| Dokumentart: | Dissertation | |
| Betreuer: | Magerle, Robert (Prof. Dr.) | |
| DOI: | doi:10.60687/2025-0135 | |
| SWD-Schlagwörter: | Polymere , Rasterkraftmikroskopie | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Polymeroberflächen , halbleitende Polymere , nanomechanische Eigenschaften , Rasterkraftmikroskopie , MUSIC-Modus AFM , Amplituden-Phasen Abstandskurven , Tiefenprofil | |
| DDC-Sachgruppe: | Physik | |
| Sprache: | englisch | |
| Tag der mündlichen Prüfung | 22.05.2025 |
