Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Volltext zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:swb:ch1-200500132
Kotarsky, Ulf
Manthey, Wolfgang (Prof. Dr.-Ing. habil.) ; Dietzsch, Michael (Prof. Dr.-Ing.) ; Hauptmann, Peter (Prof. Dr.-Ing.) (Gutachter)
Hochauflösender mikromechanischer Sensor zur Erfassung von Oberflächenprofilen
Kurzfassung in deutsch
In der vorliegenden Arbeit wird die Entwicklung von ausschließlich elektrostatisch arbeitenden Sensor-Aktor-Arrays zur Oberflächenprofilbestimmung an Mikroteilen beschrieben. Ein wesentliches Merkmal der Strukturen ist ihr großer Eigenzustellbereich von bis zu 20 Mikrometer. Die Auswertung atomarer Kräfte ermöglicht Wegauflösungen im Nanometerbereich. Auf Grund der geringen Abmessungen durch die mikromechanische Fertigung des Sensorelements und der integrierten Sensor-Aktorfunktion sind Anordnungen als Zeilenarray möglich. Die Entwicklung richtet sich auf Strukturen, welche in klassischer Oberflächentechnologie gefertigt werden können. Durchgeführte experimentelle Tests wurden mit Sensoren in Silizium-bulk-Mikromechanik (SCREAM) realisiert. Der Schwerpunkt der Arbeit behandelt die Charakterisierung der Sensorelemente und damit verbundene Layoutverbesserungen, wie das Einbringen von Feldstoppern und die Nutzbarkeit des Sensors zur Profilbestimmung von Oberflächen unter Beachtung industrieller Anforderungen. Vorteile des Einsatzes eines solchen Sensor-Aktor-Arrays liegen in der Miniaturisierung und dem vergleichsweise großen Eigenzustellbereich jedes einzelnen Sensors. Dadurch ist es möglich, technische Oberflächen, welche im Eigenzustellbereich des Sensorarrays liegen, ohne das Nachregeln einer übergeordneten Positioniereinheit im Profil zu bestimmen. Es wird gezeigt, wie die angewandte kapazitive Wirkungsweise des Sensors mit den sehr kleinen Nutzkapazitäten im Beisein von großen Parasitärkapazitäten zur Signalauswertung genutzt werden kann.
| Universität: | TU Chemnitz | |
| Institut: | Zentrale Fakultätseinrichtungen ET/IT | |
| Fakultät: | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik | |
| Dokumentart: | Dissertation | |
| Betreuer: | Manthey, Wolfgang (Prof. Dr.-Ing. habil.) | |
| URL/URN: | http://archiv.tu-chemnitz.de/pub/2005/0013 | |
| SWD-Schlagwörter: | Rasterkraftmikroskopie , Resonanzmethode | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Atomkraftmikroskopie (AFM) , repulsive Kraftwirkung , zyklischer Kontaktmodus , Oberflächenmikromechanik , Positionssensor , Profilometrie , attraktive Kraftwirkung , kapazitive Signalwandlung | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Intermittent Contact Mode , Tapping Mode | |
| DDC-Sachgruppe: | Ingenieurwissenschaften | |
| Tag der mündlichen Prüfung | 26.11.2004 |
