Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hönicke, Philipp* ; Kayser, Yves ; Nikolaev, Konstantin V. ; Soltwisch, Victor ; Scheerder, Jeroen E. ; Fleischmann, Claudia ; Siefke, Thomas ; Andrle, Anna ; Gwalt, Grzegorz ; Siewert, Frank ; Davis, Jeffrey ; Huth, Martin ; Veloso, Anabela ; Loo, Roger ; Skroblin, Dieter ; Steinert, Michael ; Undisz, Andreas ; Rettenmayr, Markus ; Beckhoff, Burkhard
Simultaneous Dimensional and Analytical Characterization of Ordered Nanostructures
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Elektronenmikroskopie und Mikrostrukturanalytik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1613-6810 ; 1613-6829 | |
| DOI: | doi:10.1002/smll.202105776 | |
| Quelle: | In: Small. - Wiley. 2021, 2105776 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | metrology, characterization | |
| OA-Lizenz | CC BY-NC 4.0 |
