Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Weigel, Tina ; Funke, Claudia ; Zschornak, Matthias ; Behm, Thomas ; Stöcker, Hartmut ; Leisegang, Tilmann ; Meyer, Dirk C.
X-ray diffraction using focused-ion-beam-prepared single crystals
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Theoretische Physik quantenmechanischer Prozesse und Systeme | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1600-5767 | |
| DOI: | doi:10.1107/s1600576720003143 | |
| Quelle: | In: Journal of Applied Crystallography. - International Union of Crystallography (IUCr). - 53. 2020, 3, S. 614 - 622 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | X-ray diffraction , sample preparation , focused ion beams | |
| OA-Lizenz | CC BY |
