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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz

Volltext zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:swb:ch1-200500776


Silaghi, Simona Dorina (M. Sc. Phys.)
Zahn, Dietrich R.T. (Prof. Dr.) ; Hietschold, Michael (Prof. Dr.) ; Rossow, Uwe (Dr.) (Gutachter)

Optical Characterisation of DNA Bases on Silicon Surfaces


Kurzfassung in deutsch

Im Rahmen dieser Arbeit werden DNA-Basen-Moleküle (Thymin, Cytosin, Adenin und Guanin) auf H-passivierten Si(111)-Substraten mittels theoretischer Berechnungen und optischen Spektroskopien charakterisiert. Für ein einzelnes DNA-Basen-Molekül wurden quantenchemische Berechnungen von Elektronenübergängen und vibronischen Moden durchgeführt. Zusätzlich wurden die vibronischen Eigenschaften von Metall(Ag,In)/Cytosin-Komplexen sowie die Adsorption von einzelnen Cytosin-Molekülen auf H:Si(111)-Oberflächen studiert.
Die biomolekularen Schichten von DNA-Basen wurden durch organische Molekularstrahldeposition (OMBD) im Ultrahochvakuum auf flachen und vicinalen H:Si(111)-Oberflächen hergestellt. Die Morphologie, Struktur und Kristallinität von DNA-Basen-Schichten wurden mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), Röntgenbeugung (XRD) und Röntgenreflektometrie (XRR) charakterisiert. Die Vibrationseigenschaften von biomolekularen Schichten wurden experimentell durch Infrarotspektrokopie untersucht. Metall(Ag,In)/Cytosin/H:Si(111)-Heterostrukturen wurden mittels oberflächenverstärkter Ramanstreuung (SERS) charakterisiert. In dieser Arbeit wurden erstmals die optischen Konstanten und die dielektrischen Funktionen von dicken DNA-Basen-Schichten auf ebenen H:Si(111)-Oberflächen mittels spektroskopischer Ellipsometrie (SE) bestimmt. Ebenfalls zum ersten Mal wurden dünne biomolekulare Schichten auf vicinalen H:Si(111)-Oberflächen durch Reflektionsanisotropiespektroskopie (RAS) charakterisiert.

Universität: TU Chemnitz
Institut: Professur Halbleiterphysik
Fakultät: Fakultät für Naturwissenschaften
Dokumentart: Dissertation
Betreuer: Zahn, Dietrich R.T. (Prof. Dr.)
URL/URN: http://archiv.tu-chemnitz.de/pub/2005/0077
SWD-Schlagwörter: Ellipsometrie , Grenzfläche , Infrarot-Reflexionsspektroskopie , Oberflächenverstärkter Raman-Effekt , Organisches Molekül , Rasterkraftmikroskopie , Röntgenbeugung
Freie Schlagwörter (Deutsch): Ag , Biomoleküle , In , Organische Molekularstrahldeposition , Reflektionsanisotropiespektroskopie
DDC-Sachgruppe: Naturwissenschaften und Mathematik
Tag der mündlichen Prüfung 17.06.2005

 

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