Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
De Santi, Carlo ; Meneghini, Matteo* ; Marioli, Michael ; Buffolo, Matteo ; Trivellin, N. ; Weig, Thomas ; Holc, Katarzyna ; Köhler, K. ; Wagner, Joachim ; Schwarz, Ulrich T. ; Meneghesso, Gaudenzio ; Zanoni, Enrico
Thermally-activated degradation of InGaN-based laser diodes: Effect on threshold current and forward voltage
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Experimentelle Sensorik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN: 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2014.07.073 | |
| Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier B.V. - 54. 2014, 9-10, S. 2147 - 2150 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | GaN, Laser diode , Reliability , Threshold current , Constant bias stress , Thermal storage |
