Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Ostendorff, Steffen ; Meza Escobar, Jorge Hernán ; Wuttke, Heinz- Dietrich ; Sasse, Thomas ; Richter, Sebastian
Modeling Timing Constraints for Automatic Generation of Embedded Test Instruments
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Algorithmische und Diskrete Mathematik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-4799-4560-3 | |
| URL/URN: | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6868790 | |
| Quelle: | 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 23-25 April 2014, pp. 201 - 206 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | adaptive systems , automatic test equipment , boundary scan testing , data extraction , embedded test instrumentation , field programmable gate arrays , timing constraints , at-speed testing |
