Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Fromm, Felix ; Hundhausen, Martin ; Kaiser, Michl ; Seyller, Thomas
Backside monitoring of graphene on silicon carbide by Raman spectroscopy
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Experimentalphysik mit dem Schwerpunkt Technische Physik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1662-9752 | |
| URL/URN: | doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.778-780.1166 | |
| Quelle: | In: Materials Science Forum. - 778-780. 2014, S. 1166 - 1169 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Epitaxial Graphene , Raman , Silicon Carbide (SiC) |
