Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Kriesten, Daniel ; Kilian, Wolfgang ; Froß, Daniel ; Pätz, Christian ; Heinkel, Ulrich
Thermografie zur Zuverlässigkeitsanalyse unbekannter Schaltungen
thermal imaging for reliability analysis of electric circuits
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Schaltkreis- und Systementwurf | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN: 978-3-8396-0545-5 | |
| Quelle: | DASS, 25. - 26. April 2013, Dresden. - www.verlag.fraunhofer.de, 2013, S. 126 - 129 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Zuverlässigkeit elektrischer Schaltungen | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | reliability of electric circuits |
