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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Kriesten, Daniel ; Kilian, Wolfgang ; Froß, Daniel ; Pätz, Christian ; Heinkel, Ulrich

Thermografie zur Zuverlässigkeitsanalyse unbekannter Schaltungen

thermal imaging for reliability analysis of electric circuits


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Schaltkreis- und Systementwurf
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: ISBN: 978-3-8396-0545-5
Quelle: DASS, 25. - 26. April 2013, Dresden. - www.verlag.fraunhofer.de, 2013, S. 126 - 129
Freie Schlagwörter (Deutsch): Zuverlässigkeit elektrischer Schaltungen
Freie Schlagwörter (Englisch): reliability of electric circuits

 

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