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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Ehrler, Rico ; Hellwig, Olav

Advanced modeling of X-ray reflectivity for metallic multilayer systems with GenX 3


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Magnetische Funktionsmaterialien
Dokumentart: Konferenzabstract
ISBN/ISSN: 2751-0522 (Online)
URL/URN: https://regensburg25.dpg-tagungen.de/programm/assets/r25book.pdf
Quelle: DPG Frühjahrstagung der Sektion Kondensierte Materie (SKM) 2025, 16.-21.3.2025, Regensburg. - Bad Honnef : Deutsche Physikalische Gesellschaft, 2025
Freie Schlagwörter (Englisch): X-ray reflectivity , XRR , Co/Pt multilayer , scattering length density , SLD

 

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