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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Chen, Jie ; Deng, Erping* ; Zhao, Zixuan ; Wu, Yuxuan ; Huang, Yongzhang

Power Cycling Capability Comparison of Si and SiC MOSFETs under Different Conduction Modes


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-1-7281-4836-6 ; 978-1-7281-4837-3 ; 1946-0201 ; 1063-6854
DOI: doi:10.1109/ISPSD46842.2020.9170163
Quelle: International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) September 13 – 18, 2020, Vienna, Austria
Freie Schlagwörter (Englisch): power cycling capability , Si MOSFETs , SiC MOSFETs , failure mechanism

 

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