Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Volltext zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-165157
Schäfer, Philipp
Zahn, Dietrich R. T. (Prof. Dr. Dr. h. c.) ; Richter, Frank (Prof. Dr.) (Gutachter)
Spectroscopic Characterization of DC Pulsed Sputtered Amorphous Silicon
Kurzfassung in deutsch
Im Rahmen dieser Arbeit werden Schichten und Schichtsyteme untersucht, die mittels D.C. gepulstem Magnetronzerstäuben abgeschieden wurden. Die Untersuchungen der Schichten erfolgen unter dem Gesichtspunkt der Eignung dieser Schichten als Kontaktschichten für photovoltaische Anwendungen. Eine detaillierte Studie der Schichteigenschaften wurde mit Hilfe von optischen Spektroskopiemethoden sowie elektrischen Messungen erstellt. Diese stellt die Zusammenhänge der Abscheideparameter, insbesondere der Substrattemperatur und der Wasserstoffflussrate bei der Abscheidung mit den Schichteigenschaften her. Des Weiteren werden die wechselseitigen Abhängigkeiten der Schichteigenschaften dargelegt. Hierbei wurde unter anderem gezeigt, dass der allgemein in der Literatur akzeptierte lineare Zusammenhang zwischen der Tauc-Lorentz Bandlücke und dem Wasserstoffgehalt nicht für alle Proben bestätigt werden konnte. Stattdessen wurde die Abhängigkeit der Bandlücke im Wesentlichen dem Anteil der polyhydrierten Siliziumatome innerhalb der Schicht zugeordnet. Für Teilmengen der Proben ergibt sich hieraus wieder eine nahezu lineare Abhängigkeit zwischen dem Wasserstoffgehalt und der Bandlücke.Im zweiten Teil der Arbeit werden Heterostruktur-Dioden untersucht, die sich an der Grenzfläche zwischen amorphem und kristallinem Silizium ausbilden. Dabei werden vordergründig die elektrischen Eigenschaften untersucht. Dies umfasst die Untersuchung der Abscheideparameter auf grenzflächennahe Defektzustände, die mittels Ladungstransientenspektroskopie (QTS) gefunden wurden. Zudem wird der begünstigende Einfluss des kristallinen Siliziumsubstrats auf die Ausbildung von mikrokristallinen Strukturen der aufwachsenden Schichten mittels ramanspektroskopischen Untersuchungen dargelegt.
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Fakultät: | Fakultät für Naturwissenschaften | |
| Dokumentart: | Dissertation | |
| Betreuer: | Zahn, Dietrich R. T. (Prof. Dr. Dr. h. c.) | |
| URL/URN: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-165157 | |
| SWD-Schlagwörter: | Silicium , Photovoltaik , Magnetron , Zerstäubung , Spektroskopie , Experimentalphysik , Heteroübergang | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | amorphes Silizium , Photovoltaik , D.C. gepulstes Magnetronzerstäuben , Heterodioden , Raman-Spektroskopie , Infrarotspektroskopie , spektroskopische Ellipsometrie , Ladungstransientenspektroskopie , Tauc-Lorentz-Bandlücke | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | amorphous silicon , photovoltaic , dc pulsed magnetron sputtering , heterodiodes , Raman spectroscopy , infrared spectroscopy , spectroscopic ellipsometry , charge transient spectroscopy , Tauc-Lorentz band gap | |
| DDC-Sachgruppe: | Physik | |
| Tag der mündlichen Prüfung | 28.10.2013 |
