Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
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1 | Dynamic parameter identification techniques and test structures for microsystems characterization on wafer level | Shaporin, Alexey (Dipl.-Ing.) | 2009 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 1 |