Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
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1 | Determining adhesion of critical interfaces in microelectronics – A reverse Finite Element Modelling approach based on nanoindentation | Reuther, G. M.* et al. | 2022 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 1 |