Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Reliability Assessment and Modeling of High-k Dielectric Thin Films | Monteiro Diniz Reis, Daniel | 2021 |
2 | AC Reliability of Integrated Low-Temperature PVD PZT Films | Monteiro Diniz Reis, Daniel et al. | 2019 |
3 | Reliability testing of integrated low-temperature PVD PZT films | Monteiro Diniz Reis, Daniel et al. | 2018 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 3 |