Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Residual Stress Characterisation of Thin Sputtered Copper Films on Silicon Exploiting Membrane Resonance within a Specimen Centred Approach | Wunderle, Bernhard* et al. | 2020 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 1 |