Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Topological Defect Engineering and PT Symmetry in Non-Hermitian Electrical Circuits | Stegmaier, Alexander et al. | 2021 |
| 2 | Micro-scale Imaging Ellipsometry of Single-crystalline Gold Flakes for Plasmonic Applications | Richter, Peter et al. | 2015 |
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