Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Topological Defect Engineering and PT Symmetry in Non-Hermitian Electrical Circuits | Stegmaier, Alexander et al. | 2021 |
2 | Micro-scale Imaging Ellipsometry of Single-crystalline Gold Flakes for Plasmonic Applications | Richter, Peter et al. | 2015 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 2 |