Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | The nn+-Junction as the Key to Improved Ruggedness and Soft Recovery of Power Diodes | Lutz, Josef et al. | 2009 |
2 | Influence of the base contact on the electrical characteristics of SiC BJTs | Lee, Hyung-Seok et al. | 2007 |
3 | Leistungshalbleiterbauelement für Sperrspannungen über 2000V | Lutz, Josef et al. | 2007 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 3 |