Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | 3D integration approaches for MEMS and CMOS sensors based on a Cu through-silicon-via technology and wafer level bonding | Hofmann, Lutz et al. | 2015 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 1 |