Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Topological Hall Effect in Single Thick SrRuO3 Layers Induced by Defect Engineering | Wang, Changan* et al. | 2020 |
2 | Graphene Ribbon Growth on Structured Silicon Carbide | Stöhr, Alexander et al. | 2017 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 2 |