Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Heinze, Birk ; Neumeister, Matthias ; Lutz, Josef ; Rupp, Roland ; Holz, Matthias
Surge Current Ruggedness of Silicon Carbide Schottky- and Merged-PiN-Schottky Diodes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1424415322 | |
| Quelle: | Proceedings of 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's, 2008 (Proceeding of ISPSD'08), 18.-22.05.2008, Orlando, Florida. - Orlando : IEEE, 2008, S. 245 - 248 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Stoßstrom , Siliziumkarbid , Schottky-Diode , MPS-Diode , Zuverlässigkeit , Strominhomogenisierung | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Surge Current , Siliconcarbide , Schottky diode , MPS diode , Reliability , Current inhomogenisation |
