Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Lutz, Josef
Herrmann, T. ; Feller, M. ; Bayerer, R. ; Licht, T.
Power cycling induced failure mechanisms in the viewpoint of rough temperature environment
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN 978-3-8007-3089-6 | |
| Quelle: | Proceedings of the 5th International Conference on Integrated Power Electronic Systems (CIPS), p 55-58 (2008). - Berlin Offenbach : VDE Verlag , 2008. - ETG Fachbericht 111 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power Semiconductors , Reliability , Power Cycling |
