Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Fichtner, Susanne ; Frankeser, Sophia ; Rupp, R. ; Basler, Thomas ; Gerlach, R. ; Lutz, Josef
Ruggedness of 1200 V SiC MPS diodes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
| URL/URN: | doi:10.1016/j.microrel.2015.06.088 ; http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271415001808 | |
| Quelle: | Proceedings of the 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ESREF 2015. - Microelectronics Reliability. - 55. 2015, 9-10, pp. 1677-1681 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Robustheit , SiC , MPS , Diode , Überstrom , Abschaltverhalten , Stoßstrom | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Ruggedness , SiC, MPS, diode , overcurrent , turn-off behaviour , surge current |
