Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Steinhorst, Peter ; Poller, Tilo ; Lutz, Josef
Approach of a physically based lifetime model for solder layers in power modules
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN 0026-2714 | |
| URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2013.07.094 | |
| Quelle: | 24th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 30.9.-4.10. 2013, Arcachon (FR). - In: Microelectronics Reliability. - 53(2013), 9–11, S. 1199–1202, 2013 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Leistungselektronik , Lotschichten , Rissbildung , Zuverlässigkeit , Lebensdauer | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power electronics , solder layers , cracks , reliability , life-time |
