Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Basler, Thomas ; Bhojani, Riteshkumar ; Lutz, Josef ; Jakob, Roland
Measurement of a Complete HV IGBT I-V-Characteristic up to the Breakdown Point
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-90-75815-17-7, 978-1-4799-0114-2 | |
| URL/URN: | http://www.epe2013.com/ | |
| Quelle: | EPE'13 ECCE Europe, 15th European Conference on Power Electronics and Applications, 3-5 September 2013, Lille, France | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Robustness , MOS device , Device simulation |
