Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Baburske, Roman ;
Lutz, Josef ;
Schulze, Hans-Joachim ;
Niedernostheide, F.-J.
V. Benda
Analysis of the destruction mechanism during reverse recovery of power diodes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN: 978-80-01-04602-9 | |
| Quelle: | 10th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS). - Prague: CTU, 2010 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | reverse recovery , high-voltage diode , destruction , thermal runaway |
