Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mysore, Madhu Lakshman* ; Goller, Maximillian ; Chavda, Rahul-Vijaybhai ; Alaluss, Mohamed ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Understanding the Influence of Different Parameters on the Dynamic VSD Behaviour of SiC MOSFETs during Power Cycling Test
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN print 1013-9826 ; ISSN cd 1662-9809 ; ISSN web 1662-9795 | |
| DOI: | doi:10.4028/p-HQ1kov | |
| URL/URN: | https://www.scientific.net/KEM.1054.99 | |
| Quelle: | Scientific.Net. - Key Engineering Materials. - Vol. 1054. 2026, pp 99-113. - ICSCRM 2026, 14-19 September 2025, Busan | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | dynamic VSD , VSD(T) method , power cycling test , body effect , interface traps , TCAD | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
