Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mysore, Madhu Lakshman* ; Chavda, Rahul-Vijaybhai ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Impact of the Negative Gate Bias on Short-Circuit Robustness of SiC MOSFETs with Measurements and Simulations
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN print 1013-9826 ; ISSN cd 1662-9809 ; ISSN web 1662-9795 | |
| DOI: | doi:10.4028/p-HwDA3m | |
| URL/URN: | https://www.scientific.net/KEM.1054.55 | |
| Quelle: | Scientific.Net. - Key Engineering Materials. - Vol. 1054. 2026, pp 55-67. - ICSCRM 2026, 14-19 September 2025, Busan | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | short-circuit robustness , SC failures , thermal runaway , npn BJT activation , gate-leakage , TCAD | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
