Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Kaminski, Nando* ; Basler, Thomas ; Boldyrjew-Mast, Roman ; El-Barbari, Said ; Franke, Jörg ; Rittner, Martin ; Salmen, Paul ; Schmitt, Stefan ; Senftleben, Oliver ; Tüllmann, Marc ; Thoben, Markus
Reliability of Wide Bandgap Semiconductors for Automotive Applications
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISSN: 1557-9646 ; Print ISSN: 0018-9383 | |
| DOI: | doi:10.1109/ted.2026.3672721 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Electron Devices. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). 2026, S. 1 - 16 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Automotive components , MOSFET , semiconductor device reliability , silicon carbide (SiC) , standardization , wide bandgap (WBG) semiconductors | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
