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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Prigann, Sven ; Strasser, Marc ; Schlipf, Johannes ; Reisinger, Hans ; Bartholomäus, Lars ; Gustin, Wolfgang ; Basler, Thomas

On the Equivalency of AC and DC Hot Carrier Stress in Power LDMOS Devices


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: Electronic ISBN: 979-8-3315-5734-8 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3315-5735-5
DOI: doi:10.1109/isps65707.2025.11189930
Quelle: 2025 17th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS), 27-29 August 2025.Prague, Czech Republic. - IEEE, 2025
Freie Schlagwörter (Englisch): LDMOS , hot-carrier stress

 

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