Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Herrmann, Clemens ; He, Mengdi ; Alaluss, Mohamed ; Herold, Christian ; Basler, Thomas
A Novel Test Method for Bipolar Degradation under Short Dead Times
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| DOI: | doi:10.30420/566541042 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/11051305 | |
| Quelle: | PCIM Conference, 06.05.2025-08.05.2025, Nürnberg, Germany, pp. 341-350 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Bipolar Degradation , Dead Time , SiC MOSFET |
