Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Heimler, Patrick* ; Müller, Johannes* ; Mysore, Madhu Lakshman* ; Gesell, Sören* ; Lutz, Josef* ; Basler, Thomas*
Influencing Factors on the Dynamic VSD Behaviour of different SiC-MOSFET Technologies used for Temperature Read-Out via VSD(T)-Method during the Power Cycling Test
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| URL/URN: | https://hal.science/hal-05369191v1 | |
| Quelle: | ESREF 2025 : 36th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2025, Université de Bordeaux, ADERA, Oct 2025, Bordeaux, France, 2025 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET , Power Cycling , Body Diode , Accurate Temperature Measurement , Dynamic VSD Behaviour |
