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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Mathew, Anu ; Richter-Trummer, Susana Oliveira ; Albrecht, Jan ; Rzepka, Sven ; Grosse-Kockert, Corinna ; May, Daniel ; Heimler, Patrick ; Xie, Dong ; Alaluss, Mohamed ; Basler, Thomas

Physics-Based Reliability Analysis of Power Modules at Substrate and Component Level


Universität: Technische Universität Chemnitz
Förderung: EU
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: Print ISBN: 978-3-8007-6541-6
DOI: doi:10.30420/566541028
URL/URN: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/11051291
Quelle: PCIM Conference 2025; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, 06.05.2025-08.05.2025 in Nürnberg, Germany
Freie Schlagwörter (Englisch): Power Cycling Test , Thermal Shock Test , SiC MOSFET , Thermal and electrical Conductivity , Silver Sintering , Copper

 

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