Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hein, Lukas* ; Heimler, Patrick* ; Schubert, Georg* ; Lutz, Josef* ; Basler, Thomas*
Reliability Testing of SiC MOSFETs in Different Power Cycling Operating Modes - Focusing on the Challenges of Body Diode Testing
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 978-4-88686-441-3 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3315-4126-2 ; Electronic ISSN: 1946-0201 ; Print on Demand(PoD) ISSN: 1063-6854 | |
| DOI: | doi:10.23919/ISPSD62843.2025.11117275 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/11117275 | |
| Quelle: | 2025 37th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Kumamoto, Japan, 2025, pp. 573-576 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET , Reliability , Power Cycling , Test strategies , Body Diode |
