Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mysore, Madhu Lakshman* ; Prasanna-Kumar, Darshan-Koorana ; Wang, Chaohao ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Investigation of Overcurrent Turn-Off Robustness of 1200 V SiC MOSFETs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | Sonstiges | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN 1662-9795 (Online) ; ISSN 1013-9826 (Print) ; ISBN 978-3-0364-0916-0 (Print) ; 9783036419169 (E-Book) | |
| DOI: | doi:10.4028/p-O0YawH | |
| URL/URN: | https://www.scientific.net/KEM.1024.29 | |
| Quelle: | ICSCRM2024, Sep. 29 - Oct. 4, Raleigh, pp 29-37, 2025. - Key Engineering Materials. - 1024. 2025, pp. 29-37 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Overcurrent turn-off , Robustness, Gate-leakage , Gate oxide , Electric field , TCAD | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
