Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Alaluss, Mohamed* ; Böhm, Christoph ; Mysore, Madhu Lakshman ; Heimler, Patrick ; Basler, Thomas ; Elsayed, Ahmed ; Oberdieck, Karl ; Goel, Sudhanshu
Dynamic Characterization and Robustness of SiC MOSFETs Based on SmartSiCTM Engineered Substrates
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1662-9795 | |
| DOI: | doi:10.4028/p-k87vmx | |
| URL/URN: | https://www.scientific.net/KEM.1024.49 | |
| Quelle: | Key Engineering Materials. - Trans Tech Publications, Ltd. - 1024. 2025, S. 49 - 56 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET , SiC Engineered Substrate , SmartSiC , Body Diode , Reverse Recovery , Surge Current , Short Circuit , TCAD | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
